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電子電器溫度沖擊測(cè)試

電子電器溫度沖擊測(cè)試

簡(jiǎn)要描述:電子電器溫度沖擊測(cè)試常用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型和量產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對(duì)溫度急劇變化之后的性能變化,剔除產(chǎn)品的早期故障。

所屬分類:電子電器檢測(cè)

更新時(shí)間:2024-12-18

廠商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌優(yōu)爾鴻信

環(huán)境因素對(duì)產(chǎn)品可靠性有著顯著的影響。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中,我們需要充分考慮產(chǎn)品對(duì)各種環(huán)境的適應(yīng)能力,而環(huán)境試驗(yàn)則是一種有效的評(píng)估手段。常見(jiàn)的環(huán)境試驗(yàn)包括高溫、低溫、溫度沖擊、溫度循環(huán)、低氣壓、鹽霧、濕熱、霉菌、振動(dòng)和沖擊等。

 

冷熱沖擊試驗(yàn)/溫度沖擊常用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型和量產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對(duì)溫度急劇變化之后的性能變化,剔除產(chǎn)品的早期故障。冷熱沖擊試驗(yàn)(溫度沖擊)加速了產(chǎn)品在高溫和低溫條件下失效的產(chǎn)生,高溫和低溫的失效都會(huì)反映在冷熱沖擊試驗(yàn)中。

參考標(biāo)準(zhǔn):

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分:試驗(yàn)Na:溫度變化 IEC 60068-2-14:2009

環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 2423.22-2012條款7 試驗(yàn)Na


溫度沖擊試驗(yàn)/冷熱沖擊試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品或零部件在快速溫度變化下的性能表現(xiàn),如不同材料的收縮/膨脹特性可能導(dǎo)致零部件的變形、位移和破裂等問(wèn)題。根據(jù)試驗(yàn)方法和設(shè)備的不同,溫度沖擊試驗(yàn)可分為兩箱式?jīng)_擊柜和三箱式?jīng)_擊柜。兩箱式?jīng)_擊柜的工作方式為:高溫→低溫→高溫;三箱式?jīng)_擊柜的工作方式為:高溫→常溫→低溫→常溫→高溫。

 

與溫度循環(huán)試驗(yàn)相比,溫度沖擊試驗(yàn)的特點(diǎn)是溫變時(shí)間是確定的,而溫變速率則是變化的。




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